Rasterelektronenmikroskop (SEM) JEOL JSM-5600, hergestellt in Japan.
Laborausrüstung für Oberflächenanalyse und
Materialcharakterisierung. Ausgestattet mit Oxford Instruments
EDS-Detektormodell 6587 (ATW2), deklarierter Auflösung von 138 eV bei
5,9 keV, Elementarröntgenanalysesystem, kippbarer Probenkammer und
Vakuumsystem. Sie umfasst eine elektronische Säule, einen
Antivibrationstisch, einen EDS Oxford Instruments Detektor und auf den
Fotos sichtbare Komponenten. Optisch vollständiger Zustand. Es ist
ratsam, vor dem Verkauf den Betrieb des Vakuumsystems, der
elektronischen Kanone, der Steuerelektronik und der Software zu
überprüfen.
Auktions-ID: A7-47344-31
