ThermoFisher OptiFIB Taipan G2+ DualBeam FIB-SEM System Fehleranalyse-Geräte
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Technische Daten
· ID 168524966Elektrotechnik, Elektronikteile
- Zustand
- gebraucht
- Baujahr
- 2019
- Standort
- Portland, OR
Identifikation
HerstellerThermoFisher
ModellOptiFIB Taipan G2+ DualBeam FIB-SEM System
Positionsnummer8343257
Technik
Stückzahl1
Beschreibung
Hersteller: ThermoFisher
Modell: OptiFIB Taipan G2+
Herstellungsjahr: 2019
Maschinentyp: DualBeam fokussierter Ionenstrahl – Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM)
Zustand: Gebraucht. Ausgezeichneter Arbeits- und physischer Zustand, professionell inspiziert
Enthaltene Artikel:
1. Hauptsäule und Stufe des DualBeam FIB-SEM
2. Steuerkonsole und Computer mit neuer SSD installiert, vollständig verarbeitet und betriebsbereit
3. De Chemistry- und DX-Chemistry-Einheiten wie abgebildet
4. Vollständiger Satz grundlegender technischer Dokumentationen
Vorteile dieser Einheit:
Premium Source – Stammt aus der Intel-Fertigung
Modell: OptiFIB Taipan G2+
Herstellungsjahr: 2019
Maschinentyp: DualBeam fokussierter Ionenstrahl – Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM)
Zustand: Gebraucht. Ausgezeichneter Arbeits- und physischer Zustand, professionell inspiziert
Enthaltene Artikel:
1. Hauptsäule und Stufe des DualBeam FIB-SEM
2. Steuerkonsole und Computer mit neuer SSD installiert, vollständig verarbeitet und betriebsbereit
3. De Chemistry- und DX-Chemistry-Einheiten wie abgebildet
4. Vollständiger Satz grundlegender technischer Dokumentationen
Vorteile dieser Einheit:
Premium Source – Stammt aus der Intel-Fertigung
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